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Spécification de résonance pour les études de
sensibilité
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Réduire une vibration indésirable requiert
souvent un décalage de la résonance de la structure
hors d’un intervalle de fréquence particulier. SDM
vous permet de mener des études de sensibilité pour
déterminer en quels points une modification est
nécessaire, et de quelle importance. En utilisant
les commandes de Resonance Specification
(spécification de résonance) de SDM, vous spécifiez
une résonance-cible de la structure et le type
(masse, raideur ou amortissement) ainsi que la
localisation de la modification. SDM quantifie alors
la modification nécessaire à l’obtention du résultat
recherché.
Vous pouvez modifier le modèle automatiquement
en utilisant les commandes de modification du
matériel, générant ainsi un ensemble complet de
nouvelles données modales qui incluent la résonance
spécifiée.
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Simulation de réponse de la structure à des forces réalistes
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La meilleure façon de tester une modification
proposée pour la structure est de mesurer la réponse de
cette dernière à des fonctions de force réalistes. Le
module Forced Response Simulation (FRS, simulation de
réponse forcée) du STAR7 System™ donne cette possibilité
cruciale. Vous pouvez utiliser les données d’un spectre
de puissance mesurées ou synthétisées, aléatoires,
transitoires, sinusoïdales, ou utiliser des forces
d’excitation définies, pour déterminer la réponse en
déplacement, vitesse ou accélération en tout point de la
structure. Vous pouvez entrer ces forces en un nombre
quelconque de points ; le STAR7 System™ somme les
réponses de ces points intéressants pour générer des
réponses réalistes
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Simulation sinusoïdale pour prédire le profil de déflexion opérationnel
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La capacité de STAR7 System™ d’effectuer une
simulation sinusoïdale vous permet de calculer le profil
de déformation qui résulte de la combinaison de forces
d’excitations sinusoïdales appliquées en plusieurs
points de la structure. Vous pouvez observer un profil
de déformation complet avec une animation en temps réel
et évaluer la réponse de la structure à une fréquence
quelconque de l’intervalle mesuré.
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